设备名称：冷场发射球差校正透射电镜

设备型号：JEM-ARM200F

制造商：日本电子光学公司（JEOL）

负责人： 

联系方式：

放置地点：新科研楼130房间

主要技术指标

› 分辨率：  STEM-HAADF像分辨78pm

            TEM点分辨 0.19nm

› 电子枪类型：冷场电子发射枪 Cold-FEG

› 校正器：CEOS球差校正器

› zei大倾斜角： X轴±25°，Y轴±25°

常用附件

› CCD 数码相机
› 能谱仪EDS

› 电子能量损失仪EELS
› TEM/STEM断层扫描系统

› 球差校正器

          › STEM-ABF模式

          › HAADF探测器

主要用途

›材料形貌、电子衍射、衍衬分析；

›超高分辨率相干及非相干高分辨电子显微成像观察；

›纳米尺度成分分析；

›电子能量损失谱(EELS)及原子尺度谱像分析；

›对材料进行三维重构分析