设备名称：透射电子显微电镜

设备型号：JEM-2100Plus

制造商：日本电子光学公司（JEOL）

负责人：

联系方式：

放置地点：新科研楼130房间

主要技术指标

› 分辨率

点分辨率：0.19 nm

线分辨率：0.14nm

›zei小束斑尺寸：0.5nm

› EDS:13

› 加速电压：80,100,120,160,200KV

常用附件

› CCD数字相机，1100万像素

› 牛津EDS 能谱，分辨率优于136 eV，分辨元素范围B^<5-U⁹²

› 扫描透射图像观察

› TEM Center

主要用途

›材料微观形貌观察；

›电子衍射结构分析；

›相位成像高分辨观察；

›分子量分布、微孔尺寸分布；

›Mapping扫描

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