设备名称：冷场发射球差校正透射电镜

设备型号：JEM-ARM200F

制造商：日本电子光学公司（JEOL）

负责人：伞星源

联系方式：15933081113

放置地点：新科研楼130房间

主要技术指标

› 分辨率： STEM-HAADF像分辨78pm

TEM点分辨0.19nm

› 电子枪类型：冷场电子发射枪Cold-FEG

› 校正器：CEOS球差校正器

›zei大倾斜角：X轴±25°，Y轴±25°

常用附件

› CCD数码相机

›能谱仪EDS

›电子能量损失仪EELS

› TEM/STEM断层扫描系统

› 球差校正器

› STEM-ABF模式

› HAADF探测器

主要用途

›材料形貌、电子衍射、衍衬分析；

›超高分辨率相干及非相干高分辨电子显微成像观察；

›纳米尺度成分分析；

›电子能量损失谱(EELS)及原子尺度谱像分析；

›对材料进行三维重构分析