设备名称：可见微区光谱测试系统

设备型号：CS204SF-DMX-20-OM

制造商：美国ARS Inc.

负责人：王颖

联系方式：13831202601

放置地点：综合科研楼336

测试参数

› 激发波长：395nm、405nm、532nm、超连续激光器（455-2400nm, 2-78MHz）

› 光谱范围：350-1050nm

› 时间范围：100ps-12ns

› 时间分辨率：~50ps

› 探测器：2D CCD（液氮制冷CCD）

测量方式

› 低温样品室（6K-300K）

›固体样品（尺寸<1cm，厚度<2mm）

› 反射式荧光，配备显微透镜装置

主要用途

› 可见波段荧光发射谱（PL），荧光激发谱（PLE），时间分辨荧光谱（TRPL），此系统具有显微成像功能，拓展了对各种单量子结构进行荧光发射谱的灵敏测量和瞬态动力学过程分析

      设备名称：近红外光谱测试系统

      设备型号：SP-2500i

制造商：美国PI.

负责人：王颖

联系方式：13831202601

放置地点：新科研楼336房间

测试参数

› 激发波长：395nm、405nm、532nm、超连续激光器（455-2400nm, 2-78MHz）

› 光谱范围：500-1700nmnm（液氮制冷CCD），配备长波长探头范围到2560nm（热电制冷型）

› 时间范围：100ps-10ns

› 时间分辨率：~0.4 ns

› 探测器：CCD（液氮制冷CCD）

测量方式

› 低温样品室（10K-300K）

›固体样品（尺寸<1cm，厚度<2mm）

› 反射式荧光

主要用途

›近红外波段荧光发射谱（PL），荧光激发谱（PLE），时间分辨荧光谱（TRPL）